4200-SCS/C, Система измерения параметров полупроводников: от компании Electrony

Покупая изделие: 4200-scs/c, система измерения параметров полупроводников наши специалисты помогут с выбором нужных сопутствующих товаров из каталога: Keithley . Мы проконсультируем вас по всем техническим деталям и в случае необходимости подберем аналогичный товар: Осциллографы портативные, Аксессуары для мультиметров, Универсальные мультиметры цифровые, Стрелочные мультиметры, Мультиметры или похожий товар производителя keithley. Помощь в подборе материалов от экспертов в своей области, а также оперативная доставка и сниженные цены на весь товар.

4200-SCS/C, Система измерения параметров полупроводников

Cистема Keithley 4200-SCS – универсальная система для измерений I-V (вольт-амперных характеристик –ВАХ) и С-V (вольт-фарадных характеристик) на постоянном токе и в импульсном режиме для полупроводниковых приборов и тестовых структур на пластине в полупроводниковом производстве. Система имеет модульную многоканальную архитектуру и настраиваемую конфигурацию, поддерживая до 9 измерительных и дополнительных модулей. Обеспечивает: Измерение ВАХ в диапазоне токов 0.1 фА до 1 А и напряжения от 1 мкВ до 210 В Измерение C-V в диапазоне до 400 В с разрешением 5 мВ, в частотном диапазоне от 1 кГц до 10 МГц Ультрабыстрое и импульсное тестирование с временным разрешением 10 нс Основные особенности: Встроенный системный контроллер с процессором 2 Duo-Pentium и поддержкой монитора высокого разрешения Шасси поддерживает до 9 измерительных модулей одновременно Опционально предусилитель малых токов для модулей средней и высокой мощности Измерение вольт-фарадных (C-V) характеристик с дифференциальным смещением ±60 В и в диапазоне частот от 1 кГц до 10 МГц, а также в квазистатическом режиме и ультраникочастотную CV-метрию Опциональное измерение высоковольтных Вольт-фарадных (С-V) характеристик в диапазоне дифференциального напряжения до 400 В Интерактивная интуитивно понятная пользовательская среда тестирования (КITE) позволяет быстро решать задачи по управлению процессом измерения и тестирования Библиотека до 450 стандартных тестов Рабочая станция на базе Windows XP Процессор Pentium Core 2 Duo 6400 Память - 2 Гб Жесткий диск -500 Гб SATA HDD DVD/CD-RW Встроенный 12-дюймовый дисплей с выходом на внешний SVGA Монитор Порты LAN, GPIB, USB, RS-232, Parallel Printer Port Система измерения параметров полупроводников Keithley 4200 - это комплекс аппаратных и программных средств.

Система измерения параметров полупроводников 4200-SCS/C

Описание товара:

Система измерения параметров полупроводников 4200-SCS/C - это высокоточное оборудование для проведения измерений в области полупроводниковой техники. Эта система позволяет измерять различные параметры полупроводников, такие как проводимость, емкость, температуру и другие.

Система 4200-SCS/C обладает широким спектром функций и высокой точностью измерений, что делает ее незаменимым инструментом для исследований в области электроники, физики полупроводников и других отраслей промышленности.

Обеспечивает точные и надежные измерения параметров полупроводников.